恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」

簡要描述：恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」
用于同時需大量的或大型的對電子、汽車、橡膠、塑膠、航太科技科技及通信器材或大型等產品進行溫濕度環(huán)境測試。從而判斷產品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數是否合格。將提供給您預測和改進產品的質量和可靠性的依據。

產品型號： THA-1000PF

所屬分類：大型恒溫恒濕試驗箱

更新時間：2025-02-22

廠商性質：生產廠家

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詳情介紹

恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」

主要用于大型工業(yè)設備、車用電子產品等進行批量產品放入，進行復雜高低溫濕熱交變試驗。仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，是提高產品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設備。

恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」

容積、尺寸和重量
標稱內容積	1000L
內型尺寸	W1000H1000D1000mm
外型尺寸	W1260H1900D1920mm
重量	約125㎏

恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」

保溫圍護結構

外壁材料：SUS﹟304不銹鋼板或烤漆處理.

內壁材料：不銹鋼板SUS﹟304 .

箱體保溫材料：耐高溫硬質聚氨酯泡沫.

箱門保溫材料：耐高溫硬質聚氨酯泡沫

恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」

加濕系統(tǒng)

1、內置式鍋爐蒸汽式加濕器，超聲波加濕等

2、具有水位自動補償、缺水報警系統(tǒng)

3、遠紅外不銹鋼高速加溫（0.75KW×3）電熱管

4、濕度控制均采用P.I.D控制

恒溫恒濕箱芯片檢測 1立方「超低功耗」

執(zhí)行滿足標準及試驗方法

①GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法

②GB/T 2423.2-2001 試驗B：高溫試驗方法

③GJB 150.3-1986 高溫試驗

④GJB 150.4-1986 低溫試驗

⑤IEC68-2-1 試驗A：寒冷.

⑥GB 11158《高溫試驗箱技術條件》

⑦GB/T 2423.2《電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法》.

⑧GB/T10586-89 濕熱試驗箱條件

⑨GT/T2423.3-93、GT/T2423.4-93 濕熱試驗箱條件

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